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用衰减全反射红外光谱研究纳米SiO2粒子在复合涂层中的迁移现象

邱玮丽 马晓华 杨清河 付延鲍 宗祥福

邱玮丽, 马晓华, 杨清河, 等. 用衰减全反射红外光谱研究纳米SiO2粒子在复合涂层中的迁移现象[J]. 复合材料学报, 2004, 21(4): 54-57.
引用本文: 邱玮丽, 马晓华, 杨清河, 等. 用衰减全反射红外光谱研究纳米SiO2粒子在复合涂层中的迁移现象[J]. 复合材料学报, 2004, 21(4): 54-57.
QIU Weili, MA Xiaohua, YANG Qinghe, et al. FTIR-ATR SPECTROSCOPIC STUDY OF MIGRATION OF NANO-SiO2 PARTICLES IN COMPOSITE COATINGS[J]. Acta Materiae Compositae Sinica, 2004, 21(4): 54-57.
Citation: QIU Weili, MA Xiaohua, YANG Qinghe, et al. FTIR-ATR SPECTROSCOPIC STUDY OF MIGRATION OF NANO-SiO2 PARTICLES IN COMPOSITE COATINGS[J]. Acta Materiae Compositae Sinica, 2004, 21(4): 54-57.

用衰减全反射红外光谱研究纳米SiO2粒子在复合涂层中的迁移现象

基金项目: 上海市科学技术委员会资助项目(02dz11001)
详细信息
    通讯作者:

    马晓华,博士,副研究员,研究方向为功能高分子材料 E-mail:xhma@fudan.edu.cn

  • 中图分类号: TB332

FTIR-ATR SPECTROSCOPIC STUDY OF MIGRATION OF NANO-SiO2 PARTICLES IN COMPOSITE COATINGS

  • 摘要: 用衰减全反射红外光谱(FTIR-ATR)技术研究了纳米SiO2粒子在紫外光固化复合涂层中的迁移现象,并对影响纳米SiO2粒子在涂层中分布梯度的因素进行了半定量分析。研究结果表明,纳米SiO2粒子在光固化过程中向涂层接触空气的表面迁移,在表面层富集。当纳米SiO2粒子含量较高、分子量较小、接枝率较高,或者在极性较大的基体树脂中时,迁移较快,分布梯度较大。

     

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出版历程
  • 收稿日期:  2003-06-02
  • 修回日期:  2003-11-20
  • 刊出日期:  2004-08-15

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