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五层纳米SiO2-Al2O3/聚酰亚胺复合薄膜的制备及性能

杨瑞宵 陈昊 王相文 赵伟 范勇

杨瑞宵, 陈昊, 王相文, 等. 五层纳米SiO2-Al2O3/聚酰亚胺复合薄膜的制备及性能[J]. 复合材料学报, 2018, 35(5): 1050-1058. doi: 10.13801/j.cnki.fhclxb.20170630.001
引用本文: 杨瑞宵, 陈昊, 王相文, 等. 五层纳米SiO2-Al2O3/聚酰亚胺复合薄膜的制备及性能[J]. 复合材料学报, 2018, 35(5): 1050-1058. doi: 10.13801/j.cnki.fhclxb.20170630.001
YANG Ruixiao, CHEN Hao, WANG Xiangwen, et al. Preparation and properties of five layer nano SiO2-Al2O3/polyimide composite film[J]. Acta Materiae Compositae Sinica, 2018, 35(5): 1050-1058. doi: 10.13801/j.cnki.fhclxb.20170630.001
Citation: YANG Ruixiao, CHEN Hao, WANG Xiangwen, et al. Preparation and properties of five layer nano SiO2-Al2O3/polyimide composite film[J]. Acta Materiae Compositae Sinica, 2018, 35(5): 1050-1058. doi: 10.13801/j.cnki.fhclxb.20170630.001

五层纳米SiO2-Al2O3/聚酰亚胺复合薄膜的制备及性能

doi: 10.13801/j.cnki.fhclxb.20170630.001
基金项目: 国家自然科学基金(51277044)
详细信息
    通讯作者:

    范勇,博士,教授,博士生导师,研究方向为电介质材料,E-mail:fyzf318@163.com

  • 中图分类号: TB332

Preparation and properties of five layer nano SiO2-Al2O3/polyimide composite film

  • 摘要: 采用浸胶法制备了一系列SiO2-Al2O3/聚酰亚胺(SiO2-Al2O3/PI)五层耐电晕薄膜Am An PAn Am,其中中间层(P)为纯PI薄膜,外层(Am)、次外层(An)分别为SiO2-Al2O3掺杂不同质量分数的纳米SiO2-Al2O3/PI薄膜。采用TEM、FTIR、宽频介电谱仪、电导电流测试仪、耐电晕测试仪、介电强度测试仪和拉伸实验机对五层纳米复合PI耐电晕薄膜的微观结构、介电性能和力学性能进行了表征和测试。结果表明,SiO2-Al2O3/PI复合薄膜掺杂层形成了分布均匀的有机/无机复合结构;SiO2-Al2O3纳米粒子的保护作用是影响复合材料耐电晕性能的主要因素,复合薄膜A32A16PA16A32的耐电晕寿命最大,为23.4 h;外层掺杂量对五层SiO2-Al2O3/PI复合材料的介电强度影响较大,复合薄膜A20A28PA28A20的介电强度最大,为302.3 kV/mm;通过对五层复合结构的设计,可以在兼顾材料力学性能的同时,提高其耐电晕寿命和介电强度。

     

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出版历程
  • 收稿日期:  2016-05-05
  • 修回日期:  2016-06-27
  • 刊出日期:  2018-05-15

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