留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

双材料界面粘接质量定量检测的相移错位散斑技术

陈金龙 秦玉文 计欣华

陈金龙, 秦玉文, 计欣华. 双材料界面粘接质量定量检测的相移错位散斑技术[J]. 复合材料学报, 2001, 18(1): 128-130.
引用本文: 陈金龙, 秦玉文, 计欣华. 双材料界面粘接质量定量检测的相移错位散斑技术[J]. 复合材料学报, 2001, 18(1): 128-130.
CHEN Jin-long, QIN Yu-wen, JI Xin-hua. PHASE-SHIFTING SHEARING SPECKLE FOR QUANTITATIVE NDT OF BIMATERIAL INTERFACE[J]. Acta Materiae Compositae Sinica, 2001, 18(1): 128-130.
Citation: CHEN Jin-long, QIN Yu-wen, JI Xin-hua. PHASE-SHIFTING SHEARING SPECKLE FOR QUANTITATIVE NDT OF BIMATERIAL INTERFACE[J]. Acta Materiae Compositae Sinica, 2001, 18(1): 128-130.

双材料界面粘接质量定量检测的相移错位散斑技术

基金项目: 国家教育部博士点基金支持
详细信息
    作者简介:

    陈金龙(1966),男,博士,副教授,主要从事计算机辅助散斑计量、界面力学、生物力学等方面的研究工作。

  • 中图分类号: TB330.1;O348.12

PHASE-SHIFTING SHEARING SPECKLE FOR QUANTITATIVE NDT OF BIMATERIAL INTERFACE

计量
  • 文章访问数:  1345
  • PDF下载量:  857
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1999-07-21
  • 修回日期:  1999-11-11
  • 刊出日期:  2001-02-15

目录

    /

    返回文章
    返回